Microscopie Electronique à transmission (MET)

• Préparation et observation d’échantillons conventionnels en MET : ultrastructure, immunocytochimie et contraste négatif
• Ultramicrotomie
• Congélation à haute pression ou par plonge, cryosubstitution
• Cryo-microscopie en MET
• Cartographie chimique et spectroscopie en MET ou en STEM-in-SEM avec High Angle Annular Dark Field (STEM-HAADF)
• Spectroscopie aux rayons X à dispersion d’énergie (XEDS)
• Spectrométrie ou imagerie de perte d’énergie électronique (EELS / EFTEM);

Microscopie électronique à balayage (MEB):

• Préparation et observation d’échantillons conventionnelles en MEB haute résolution et cryo-MEB
• Imagerie conventionnelle en électrons secondaires ou rétrodiffusés
• Spectroscopie et cartographie X (XEDS)
• Préparation des échantillons: séchage par contournement du point critique, ion-beam milling, cryo-fracture et sublimation, métallisation

Focus Ion Beam-SEM:

Préparation des échantillons pour la microscopie à rayons X et à balayage-transmission (STXM), fraisage en série